測(cè)試流程 文章 最新資訊
泰瑞達(dá)引入實(shí)時(shí)分析解決方案至測(cè)試流程
- 2023年8月2日，中國(guó) 北京訊 —— 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）今日宣布，推出泰瑞達(dá)Archimedes解決方案---這一開放式架構(gòu)將實(shí)時(shí)分析引入半導(dǎo)體測(cè)試。該解決方案可優(yōu)化測(cè)試流程、提升良率并降低成本，同時(shí)減少當(dāng)前云端方案存在的安全隱患。 泰瑞達(dá)半導(dǎo)體測(cè)試事業(yè)部營(yíng)銷副總裁兼總經(jīng)理Regan Mills表示：“隨著市場(chǎng)對(duì)于采用先進(jìn)工藝的高性能器件的需求不斷擴(kuò)大，半導(dǎo)體制造的復(fù)雜度也隨之提升，亟需全面的測(cè)試和分析解決方案。泰瑞達(dá)Archimedes所提供開放式的架
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手機(jī)測(cè)試成本降低的方案
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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測(cè)試流程介紹
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