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測(cè)試機(jī)臺(tái)
測(cè)試機(jī)臺(tái) 文章 進(jìn)入測(cè)試機(jī)臺(tái)技術(shù)社區(qū)
惠瑞捷發(fā)布業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展測(cè)試機(jī)臺(tái)系列
- Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測(cè)試機(jī)臺(tái)系列，可用來測(cè)試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片。 Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測(cè)試機(jī)臺(tái)，與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的 V93000 平臺(tái)完全相容。
- 關(guān)鍵字： 惠瑞捷 測(cè)試機(jī)臺(tái)
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測(cè)試機(jī)臺(tái)介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)測(cè)試機(jī)臺(tái)的理解，并與今后在此搜索測(cè)試機(jī)臺(tái)的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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