- 本文對嵌入式存儲器的測試及可測性設計進行研究總結，為我國存儲器測試的研究以及集成電路測試產業的發展奠定堅實的技術基礎。
- 關鍵字：
嵌入式存儲器 測試向量 可測性
測試向量介紹
您好，目前還沒有人創建詞條測試向量!
歡迎您創建該詞條，闡述對測試向量的理解，并與今后在此搜索測試向量的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
