- 編者按：雖說集成電路代換有方，但拆卸畢竟較麻煩。因此，在拆之前應確切判斷集成電路是否確實已損壞及損壞的程度...
- 關鍵字：
萬用表 檢測工具
- 近日，應用材料公司推出具有業界最高生產力的DUV(深紫外)亮場硅片檢測工具UVision® 3系統，它能滿足45納米前端制程和浸沒式光刻對于關鍵缺陷檢測靈敏度的要求。這個新一代的系統為應用材料公司突破性的UVision技術帶來了重要的進步，它將掃描硅片的激光束數量提升至3倍，使其生產速度比任何競爭對手的系統快40%。兩個新的成像模式將靈敏度擴展至20納米，全新靈活的自動缺陷分類引擎能夠迅速標定出有害缺陷從而達到更快的成品率學習進程。
應用材料公司副總裁，工藝診斷控制事業部總經理Gilad
- 關鍵字：
測試 測量 應用材料 硅 檢測工具 操作系統
檢測工具介紹
您好，目前還沒有人創建詞條檢測工具!
歡迎您創建該詞條，闡述對檢測工具的理解，并與今后在此搜索檢測工具的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
