- 存儲器件持續不斷的降價壓力要求降低測試成本。很多公司通過同時測試更多的器件來提高吞吐率。過去的幾年里，測試探針卡的發展允許平行測試更多的器件——同時可測的待測器件（DUT）數量從32到64到128不斷
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探針卡 測試 流程
- 市場研究公司VLSI Research的報告指出，2008年全球經濟衰退對用于晶圓測試的探針卡市場造成了嚴重的影響，2009年市場銷售收入將進一步下滑。2008年探針卡市場收入減少26.9%，而IC市場收入僅下滑4.2%。市場虛弱的主要原因是存儲制造商大幅減少支出。預計2009年探針卡市場將進一步下滑24.5%，降至7.7億美元。
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晶圓 探針卡 IC
- 據市場研究公司VLSI Research最新發表的研究報告稱，半導體行業疲軟使集成電路晶圓探針卡2007年的銷售收入增長率降到了五年平均增長率（13.9%）的一半。這篇報告警告稱，2008年內存集成電路市場廠商來說將是更困難的一年。2008年集成電路晶圓探針卡銷售收入將達到14.1億美元，比2007年的13.6億美元增長3.4%。
在2007年，美國的FormFactor公司和日本的Micronics Japan公司以及日本的JEM公司繼續保持晶圓探針卡市場的領先地位。韓國的Phicom公司的排
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晶圓 探針卡 半導體 集成電路
- 美國吉時利（Keithley）儀器公司，日前宣布授權位于加利福尼亞利弗莫爾的FormFactor公司為吉時利半導體參數測試儀制造高性能參數測試探針卡。FormFactor公司所提供的探針卡將應用于吉時利S600系列參數測試儀，進行測量超低直流電流，以及對接觸半導體晶圓的PIN腳進行標準直流參數測試。晶圓制造商和代工廠可以采用S600系列測試儀對用于組裝和封裝的晶圓進行合格性檢測或工藝監測。
FormFactor公司Takumi探針卡非常適合于吉時利最先進的參數測試儀——S680型直流/射頻參數測
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探針卡 吉時利 FormFactor 測試 測量
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