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        損耗分析 文章 最新資訊

        新型IGBT軟開關(guān)在應(yīng)用中的損耗分析

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        電子輻照對功率雙極晶體管損耗分析

        • 功率雙極晶體管由于其低廉的成本, 在開關(guān)電源中作為功率開關(guān)管得到了廣泛的應(yīng)用。應(yīng)用電子輻照技術(shù)可以減小少子壽命, 降低功率雙極晶體管的儲存時間、下降時間, 提高開關(guān)速度, 且一致性、重復性好, 成品率高,
        • 關(guān)鍵字: 電子輻照  雙極晶體管  損耗分析    
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        損耗分析介紹

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