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掃頻測(cè)試
掃頻測(cè)試 文章 最新資訊
DDS 信號(hào)源在掃頻測(cè)試中的應(yīng)用
- 電子設(shè)計(jì)中經(jīng)常碰到的問(wèn)題是對(duì)待測(cè)電路(DUT)傳輸特性的測(cè)試，這里所說(shuō)的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特性、相位特性和時(shí)延特性等，而最常見(jiàn)的就是DUT
- 關(guān)鍵字： DDS信號(hào)源 掃頻測(cè)試
DDS信號(hào)源在掃頻測(cè)試中的具體應(yīng)用
- 電子設(shè)計(jì)中經(jīng)常碰到的問(wèn)題是對(duì)待測(cè)電路(DUT)傳輸特性的測(cè)試，這里所說(shuō)的傳輸特性包括增益和衰減、幅頻特...
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掃頻測(cè)試介紹
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歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)掃頻測(cè)試的理解，并與今后在此搜索掃頻測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
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