- 掃描測試是測試集成電路的標準方法。絕大部分集成電路生產測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG 是一項成熟的技術，特點是結果的可預測性高并且效果不錯。它還能實現精確的缺陷診斷，有助于
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掃描測試 IC測試 ATPG
掃描測試介紹
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