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	掃描位移
        

        
	
        
    	
        
    	  	
        
              	
                                
        
                  

                                
        
                    
        序列門控在掃描位移中實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的時(shí)序閉合
        
                                                            
          
                    	
        • 在本文中，我們將首先快速回顧鎖存器與觸發(fā)器的時(shí)序基本概念。在下一節(jié)中，我們將介紹掃描鏈以及與其相關(guān)的時(shí)序...
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        • 關(guān)鍵字：
                        序列門控  掃描位移  時(shí)序閉合                          
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        使用序列門控在掃描位移中實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的時(shí)序閉合
        
                                                            
          
                    	
        • 如今，所有SOC都使用掃描結(jié)構(gòu)來檢測設(shè)計(jì)中的任何制造缺陷。掃描鏈專為測試而設(shè)計(jì)，按串行形式連接芯片的時(shí)序元件。由于掃描元件之間缺少組合邏輯，因此這些掃描鏈容易出現(xiàn)保持故障。除了采用小于90納米的技術(shù)外，OCV
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        • 關(guān)鍵字：
                        序列門控  掃描位移  時(shí)序閉合                            
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	共2條
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        掃描位移介紹
        
      			
        
		      	
        
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條掃描位移!
         
		      	歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對掃描位移的理解，并與今后在此搜索掃描位移的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
		      			      	
        
    		
        
  		
        
  		  		  		  		  		        		  		
        
    		
        
      			
        
        			
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