- 摘要:點膠是微波組件在進行集成時的一道關鍵工序,對后道工序影響深遠,點膠針頭和待點膠產品的點膠
路徑之間的距離為點膠高度。理論上的平面度會因為在產品進行裝配或烘烤后發生翹曲,導致點膠高度發生變
化,直接影響點膠效果。為此,本文研究了微波組件封裝設備中的點膠模塊,提出一種可以全過程測高點智能
細分算法。該測量方法首先對點膠路徑的CAD信息進行解析,提取并根據細分閥值計算需要測量高度的坐標點
位置信息,最后根據測量數據對點膠過程進行高度補償。目前該方法已應用于型號為D441A的點膠機上。測試
結果表
- 關鍵字:
202207 微波組件 點膠 細分 高度測量
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