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        開關構造 文章 進入開關構造技術社區

        測試系統的開關構造(06-100)

        •   測試系統往往用少量的儀器測量大量信號。這種設計方法制約成本,而且限制測試吞吐量。相反,如果系統具有測試的所有信號和足夠的儀器,雖然能較快地提高吞吐量,但通常是成本高而不合算。   低成本測試系統的傳統辦法是在幾個信號間開關轉換一個數字電壓表(DVM)。若只包含兩個信號,則連接DVM用一個單刀雙擲開關(SPDT),單刀連接其兩個信號之一。若必須開關轉換信號的高和低端,則雙刀雙擲(DPDT)配置是適合的。對于4個信號,可用雙刀4擲(DP4T)開關。   應用也存在超過2刀以上的情況。例如,4PDT(4
        • 關鍵字: 測試系統  RF  開關構造  
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        開關構造介紹

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