- 進行雙脈沖測試的主要目的是獲得功率半導體的開關特性，可以說它伴隨著功率器件從研發制造到應用的整個生命周期。基于雙脈沖測試獲得的器件開關波形可以做很多事情，包括：通過對開關過程的分析驗證器件設計方案并提出改進方向、提取開關特征參數制作器件規格書、計算開關損耗和反向恢復損耗為電源熱設計提供數據支撐、不同廠商器件開關特性的對比等。測量延時的影響被測信號在測量過程中會經歷兩次延時，不同信號所經歷延時的差別會對測量結果造成一定的影響。一次延時是示波器模擬前端的延時，索性示波器不同通道間延時差別在 ps 級別，對于
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Tektronix 延時校準 脈沖測試
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