- ARM的研究員及技術總監Rob Aitken稱芯片生產范式正在改變，其建議將每瓦性能作為芯片設計的指標，取代原先的摩爾定律。7月19日消息，ARM的研究員及技術總監Rob Aitken稱：芯片生產范式正在改變，其建議將每瓦性能作為芯片設計的指標，取代原先的摩爾定律。每瓦性能是其引入新范式標準，該標準旨在讓工程師以更少的功耗達到指定的性能指數。根據摩爾的說法，芯片上的晶體管密度每18個月就會翻一番，隨之而來的便是芯片性能的翻倍。Rob
Aitken表示目前芯片領域遇到瓶頸，因為目前工藝逼近原子水平，
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ARM 庫米定律 摩爾定律
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