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	尼得科精密檢測科技
        

        
	
        
    	
        
    	  	
        
              	
        
                	
        尼得科精密檢測科技 文章
                  進入尼得科精密檢測科技技術社區  
                  
        
                
        
                                
        
                  

                                
        
                    
        尼得科精密檢測科技推出半導體測溫探針卡及支持高電壓的加壓結構探針卡
        
                                                            
          
                    	
        • 尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）子公司尼得科 SV Probe 正式發售以下產品：①半導體設備溫度測量探針卡“TC（熱電偶）探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結構探針卡”。近年來，電動汽車（EV）和工業設備等領域使用的功率半導體需求不斷增加，對高電壓、大電流功率半導體的檢測、特別是在高溫環境下進行更精確、高質量檢測的需求日益增長。① “TC 探針卡”半導體設備溫度測量探針卡“TC 探針卡”是搭載了應用熱電偶技術的探針“TC 探針”的產品，可以像現有技術一樣與電極 PAD 接觸，在進行晶
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        • 關鍵字：
                        尼得科精密檢測科技  半導體測溫探針卡  加壓結構探針卡                          
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        尼得科精密檢測科技將亮相SEMICON Japan 2024
        
                                                            
          
                    	
        • 尼得科精密檢測科技株式會社將參展2024年12月11日(周三)～12月13日(周五)于東京國際會展中心舉辦的“SEMICON Japan 2024”（2024日本東京半導體展覽會）。在本屆展覽會上，尼得科精密檢測科技將展出針對IGBT/SiC功率半導體檢測設備、EV/HEV等驅動電機測試臺以及晶圓檢測夾具“探針卡”等新的解決方案。同時，還將介紹體現公司核心“測量”理念的半導體封裝基板電氣檢測系統“GATS系列”以及用于2D/3D測量微小凸點的光學檢測設備。基于公司長期積累的檢測技術，我們將提供新的檢測解決
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        • 關鍵字：
                        尼得科精密檢測科技  SEMICON Japan                          
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        尼得科精密檢測科技介紹
        
      			
        
		      	
        
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