- 軟誤差率(SER)問題是于上個世紀70年代后期作為一項存儲器數據課題而受到人們的廣泛關注的，當時DRAM開始呈現出隨機故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
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SER 存儲器數據 軟誤差
- 介紹用VHDL語言設計該存儲器數據串并轉換接口的IP核，從而通過硬件（FPGA或其他可編程芯片）實現AT24系列存儲器與8位微處理器之間的并行通信。
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AT 24 存儲器數據 串并轉換
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