- 自戈登·摩爾提出至今,摩爾定律已持續發展半個多世紀,芯片集成度不斷提高,性能不斷提升。然而如今器件特征尺寸不斷縮小,特別是接近納米尺度的量級時,出現量子尺寸效應、界面效應、短溝道效應等問題,影響了器件性能。根據國際半導體技術藍圖預測,對于5nm以下技術節點工藝,現有存儲技術將不能滿足芯片高性能、低功耗的要求。因此,高密度、低功耗的新型存儲器亟待開發。當前計算機架構基于“馮?諾依曼”體系,計算與存儲相互分離,二者間的數據反復交換和速度差異占據了大量冗余時間,被稱為“存儲墻”,直接導致整個芯片系統運算速度下降
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復旦微電子學院 高密度存算一體化非易失性鐵電單晶疇壁存儲器
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