聲學(xué)測試 文章 最新資訊
AS3415單芯片主動(dòng)降噪方案應(yīng)用研究
- AS3415作為一款單芯片主動(dòng)降噪方案，在消費(fèi)電子類主動(dòng)降噪耳機(jī)市場上有著廣泛應(yīng)用。基于AS3415模擬式前饋主動(dòng)降噪芯片，設(shè)計(jì)了一款頭戴式主動(dòng)降噪耳機(jī)，旨在探究該芯片在應(yīng)用中需解決的實(shí)際問題。包括主動(dòng)降噪芯片的硬件結(jié)構(gòu)、降噪原理、原型機(jī)聲學(xué)性能測試步驟和反饋濾波器網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)與仿真。以AS3415演示板和普通頭戴式耳機(jī)為實(shí)驗(yàn)平臺(tái)進(jìn)行降噪效果測試。實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析表明，在一般室內(nèi)環(huán)境中，上述降噪芯片對(duì)700 Hz以下噪聲有明顯降噪效果。
- 關(guān)鍵字： AS3415 聲學(xué)測試 主動(dòng)降噪 201803
你了解聲學(xué)測試室嗎？
- 測試室是輔助進(jìn)行聲學(xué)測量的特殊環(huán)境。主要有兩個(gè)目的： 創(chuàng)建聲音功率與聲壓之間關(guān)系已知的環(huán)境。 為了降低或消除噪聲干擾，其中包括環(huán)境噪聲、輔助設(shè)備、機(jī)械設(shè)備、汽車、卡車、飛機(jī)和軌道交通和其他設(shè)備所帶來的噪聲等等。 聲音功率測量需要如下的聲學(xué)測試室和環(huán)境： 精確級(jí)別：消聲室、半消聲室和共響室 工程級(jí)別：半消聲室和自由場室 調(diào)查級(jí)別：自由場室和自然環(huán)境 聲音強(qiáng)度測量要求自由場室和自然環(huán)境。 聲音質(zhì)量測量要求自由場室和自然環(huán)境。
- 關(guān)鍵字： NI 聲學(xué)測試
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聲學(xué)測試介紹
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