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        AS3415單芯片主動降噪方案應用研究　
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • AS3415作為一款單芯片主動降噪方案，在消費電子類主動降噪耳機市場上有著廣泛應用。基于AS3415模擬式前饋主動降噪芯片，設計了一款頭戴式主動降噪耳機，旨在探究該芯片在應用中需解決的實際問題。包括主動降噪芯片的硬件結構、降噪原理、原型機聲學性能測試步驟和反饋濾波器網(wǎng)絡的設計與仿真。以AS3415演示板和普通頭戴式耳機為實驗平臺進行降噪效果測試。實驗結果與分析表明，在一般室內(nèi)環(huán)境中，上述降噪芯片對700 Hz以下噪聲有明顯降噪效果。
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        • 關鍵字：
                        AS3415  聲學測試  主動降噪  201803                          
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        你了解聲學測試室嗎？
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 　　測試室是輔助進行聲學測量的特殊環(huán)境。主要有兩個目的：
　　創(chuàng)建聲音功率與聲壓之間關系已知的環(huán)境。
　　為了降低或消除噪聲干擾，其中包括環(huán)境噪聲、輔助設備、機械設備、汽車、卡車、飛機和軌道交通和其他設備所帶來的噪聲等等。
　　聲音功率測量需要如下的聲學測試室和環(huán)境：
　　精確級別：消聲室、半消聲室和共響室
　　工程級別：半消聲室和自由場室
　　調(diào)查級別：自由場室和自然環(huán)境
　　聲音強度測量要求自由場室和自然環(huán)境。
　　聲音質(zhì)量測量要求自由場室和自然環(huán)境。
　
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        • 關鍵字：
                        NI  聲學測試                          
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	共2條
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