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基于FPGA的NAND FLASH壞塊表的設(shè)計與實(shí)現(xiàn)
- 在現(xiàn)代電子設(shè)備中，越來越多的產(chǎn)品使用NAND FLASH芯片來進(jìn)行大容量的數(shù)據(jù)存儲，而且使用FPGA作為核心處理芯片與NAND FLASH直接交聯(lián)。根據(jù)NAND FLASH的特點(diǎn)，需要識別NAND FLASH芯片的壞塊并進(jìn)行管理。FPGA對壞塊的管理不能按照軟件的壞塊管理方式進(jìn)行。本文提出了一種基于FPGA的NAND FLASH芯片壞塊表的設(shè)計方法，利用FPGA中RAM模塊，設(shè)計了狀態(tài)機(jī)電路，靈活地實(shí)現(xiàn)壞塊表的建立、儲存和管理，并且對該設(shè)計進(jìn)行測試驗(yàn)證。
- 關(guān)鍵字： NAND FLASH FPGA 壞塊 壞塊檢測 202212
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