- 羅德與施瓦茨為在片器件的完整射頻性能表征提供測試解決方案，該方案結合了羅德與施瓦茨強大的R&S ZNA矢量網絡分析儀和FormFactor先進的工程探針臺系統。半導體制造商可以在產品的開發、認證和生產階段執行可靠且可重復的在片器件特性測試。 整個在片測量工作由R&S ZNA矢量網絡分析儀與FormFactor SUMMIT200探針臺系統一起完成。5G 射頻前端設計師需要確保適當的器件輸出功率和射頻帶寬，同時兼顧優化器件效率。設計流程中的一個重要階段是驗證射頻設計，盡早獲得相關設
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羅德與施瓦茨 在片器件測試
在片器件測試介紹
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