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        EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 噪聲測(cè)試

        模塊電源輸出及噪聲測(cè)試條件與方式

        • 在完成產(chǎn)品設(shè)計(jì)后,首先要進(jìn)行的就是干擾及噪聲的測(cè)試,這兩項(xiàng)參數(shù)將直接關(guān)系到產(chǎn)品能否最終上市,所以顯得十分重要。在本篇文章當(dāng)中,小編將為大家介
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        用于4G-LTE頻段噪聲測(cè)試和互調(diào)測(cè)試的濾波器組件

        • 本文描述了測(cè)試系統(tǒng)的射頻濾波模塊系統(tǒng)。隨著頻段數(shù)量激增,這些系統(tǒng)模塊可被靈活地插入(取出)系統(tǒng),從而提供基...
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        機(jī)器設(shè)備噪聲測(cè)試的方法--振動(dòng)法測(cè)噪聲

        • 一.引言對(duì)機(jī)器設(shè)備噪聲測(cè)量最通常的方法是用聲級(jí)計(jì)進(jìn)行聲壓級(jí)測(cè)量,然而在不少場(chǎng)合,這種人們十分熟悉的方法卻...
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        機(jī)器設(shè)備噪聲測(cè)試:振動(dòng)法測(cè)噪聲

        • 一.引言對(duì)機(jī)器設(shè)備噪聲測(cè)量最通常的方法是用聲級(jí)計(jì)進(jìn)行聲壓級(jí)測(cè)量,然而在不少場(chǎng)合,這種人們十分熟悉的方法卻...
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        LabVIEW應(yīng)用于車(chē)輛通過(guò)噪聲測(cè)試的聲學(xué)波束成形

        • 聲學(xué)圖像識(shí)別50公里時(shí)速、1,904.3Hz下的輪胎和排氣噪聲我們選擇了緊湊且直流供電的NI硬件,它能為陣列中...
        • 關(guān)鍵字: LabVIEW  噪聲測(cè)試  聲學(xué)波束成形  

        模塊電源的噪聲測(cè)試技巧介紹

        • 目前,模塊電源的設(shè)計(jì)日趨規(guī)范化,控制電路傾向于采用數(shù)字控制方式,非隔離式DC-DC變換器(包括VRM)比隔離式增長(zhǎng)...
        • 關(guān)鍵字: 模塊電源  噪聲測(cè)試  

        淺談模塊電源的噪聲測(cè)試方法

        •  目前,模塊電源的設(shè)計(jì)日趨規(guī)范化,控制電路傾向于采用數(shù)字控制方式,非隔離式DC-DC變換器(包括VRM)比隔離式增長(zhǎng)速度更快。隨著半導(dǎo)體工藝和封裝技術(shù)的改進(jìn),高頻軟開(kāi)關(guān)技術(shù)的大量應(yīng)用,模塊電源的功率密度越做越
        • 關(guān)鍵字: 模塊電源  方法  噪聲測(cè)試    

        PN結(jié)二極管散粒噪聲測(cè)試方法研究

        • 摘要:針對(duì)散粒噪聲難以測(cè)量的特點(diǎn),提出了一種低溫散粒噪聲測(cè)試方法。在屏蔽環(huán)境下,將被測(cè)器件置于低溫裝置內(nèi),有效抑制了外界電磁波和熱噪聲的干擾,采用背景噪聲充分低的放大器以及偏置器、適配器等,建立低溫散
        • 關(guān)鍵字: PN結(jié)  二極管  噪聲測(cè)試  方法研究    

        短溝道MOSFET散粒噪聲測(cè)試方法研究

        • 近年來(lái)隨著介觀物理和納米電子學(xué)對(duì)散粒噪聲研究的不斷深入,人們發(fā)現(xiàn)散粒噪聲可以很好的表征納米器件內(nèi)部電子傳輸特性。由于宏觀電子元器件中也會(huì)有介觀或者納米尺度的結(jié)構(gòu),例如缺陷、小孔隙和晶粒等,因而也會(huì)
        • 關(guān)鍵字: MOSFET  噪聲測(cè)試  方法研究    
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        噪聲測(cè)試介紹

        您好,目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條噪聲測(cè)試!
        歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)噪聲測(cè)試的理解,并與今后在此搜索噪聲測(cè)試的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條

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