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	雙重成像
        

        
	
        
    	
        
    	  	
        
              	
                                
        
                  

                                
        
                    
        條狀過孔成大勢所趨
        
                                                            
          
                    	
        • 對于28納米及以下節(jié)點，各種新的設(shè)計要求使工程師不得不調(diào)整傳統(tǒng)的數(shù)字電路板圖設(shè)計和驗證流程。尤其值得一提的是，過孔的使用受到了很大的影響。新的過孔類型已推出，雙重成像（double patterning）、FinFETS 和其它新的設(shè)計技巧的加入不僅使過孔的使用顯著增多
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        • 關(guān)鍵字：
                        條狀過孔  雙重成像  FinFETS  矩形過孔  布局布線                          
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        雙重成像介紹
        
      			
        
		      	
        
		      			      			      	您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條雙重成像!
         
		      	歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對雙重成像的理解，并與今后在此搜索雙重成像的朋友們分享。    創(chuàng)建詞條
		      			      	
        
    		
        
  		
        
  		  		  		  		  		        		  		
        
    		
        
      			
        
        			
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