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        單芯片系統 文章 進入單芯片系統技術社區

        SOC芯片設計與測試

        •   摘要:SOC已經成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來越復雜,在設計時必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統為例,在其設計、測試和可制造性等方面進行研究,并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。 關鍵詞:單芯片系統;面向測試設計;面向制造設計;位失效圖;自動測試設備     引言     以往的系統設計是將CPU,DSP,PLL,ADC,DAC或Memory等電路設計成IC后,再加以組合變成完整的系統,但現今的設計方式是
        • 關鍵字: SOC  單芯片系統  面向測試設計  面向制造設計  位失效圖  自動測試設備  
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        單芯片系統介紹

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