半導體c-v測量入 文章 最新資訊
半導體C-V測量入門(1)
- 普通測試電容-電壓（C-V）測試廣泛用于測量半導體器件，尤其是MOSCAP和MOSFET結構的參數。但是，通過C-V測量還能夠對很多其他類型的半導體
- 關鍵字： 半導體C-V測量入
半導體C-V測量入門(2)
- 基本測試配置圖3給出了一種基本的C-V測量配置框圖。由于C-V測量實際上是在交流頻率下進行的，因此待測器件（DUT）的電容可以根據下列公式計
- 關鍵字： 半導體C-V測量入
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