半導體自動化測試 文章 最新資訊

從半導體自動化測試撬動更廣泛應用場景，ADI多款創(chuàng)新方案樹立電子測試測量技術標桿

• “工欲善其事，必先利其器”。科學史上的許多重大突破，往往源于新的觀測手段和測量技術的進步。在現(xiàn)代電子工業(yè)中，半導體器件作為核心組件，其性能和可靠性直接決定了最終產(chǎn)品的品質和功能，對這些器件進行精確全面的測試測量變得尤為重要。近日在行業(yè)重磅展會上，全球領先的半導體公司ADI在現(xiàn)場帶來了儀器儀表應用領域的一系列創(chuàng)新方案，如ADI儀器儀表事業(yè)部高級市場經(jīng)理姜海濤所表示，這些板卡級方案以高精度、小型化以及易于集成的優(yōu)勢，契合客戶痛點，是新時代電子測試測量的標桿樣本。激增的市場，如何滿足半導體自動化測試多樣化需求？
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