- 全球先進的自動測試設備供應商泰瑞達近日宣布,與獨立第三方集成電路測試服務企業偉測科技共同達成一項里程碑式結果,暨順利交付第 8,000 臺 J750 半導體測試平臺。泰瑞達 J750 測試機包括晶圓分類和封裝測試解決方案,適用于微控制器單元、無線設備、圖像傳感器等,已在全球各大半導體芯片制造商工廠中廣泛部署。J750 測試機在質量、上市時間和成本效益方面占據行業領先優勢,有助于提高產能、增加工位數,減少單工位測試時長,并優化并行測試效率。偉測科技致力于為中國及海外的先進無晶圓廠集成電路設計公司提供測試服務
- 關鍵字:
泰瑞達 半導體測試系統
半導體測試系統介紹
您好,目前還沒有人創建詞條半導體測試系統!
歡迎您創建該詞條,闡述對半導體測試系統的理解,并與今后在此搜索半導體測試系統的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司

京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網安備11010802012473