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        動測試設備 文章 最新資訊

        安森美半導體推出應用于高速聯網和自動測試設備的新器件

        •   2008年4月10日 – 全球領先的高能效電源半導體解決方案供應商安森美半導體 (ON Semiconductor,美國納斯達克上市代號:ONNN)擴展了高性能時鐘和數據管理產品系列,推出三款新器件-NB7VQ1006M、NB4L7210和NB4N7132,用于高速聯網和自動測試設備(ATE)應用。這些器件提供新的高頻均衡功能和交叉點開關,保持安森美半導體在高性能邏輯領域的領先地位。   安森美半導體亞太區標準產品部市場營銷副總裁麥滿權說:“安森美半導體推出三款超低抖動產品應
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        動測試設備介紹

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