- 關鍵字：低功耗 制造測試完全的數字電路測試方法通常能將動態功耗提高到遠超出其規范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調試。當在角落條
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低功耗 制造測試
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