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分立電阻器檢定測試系統誤差來源引線電文章最新資訊

分立電阻器檢定測試系統的常見誤差來源——引線電阻

為了避免測量誤差，必須根據待測電阻器的阻值大小使用特定的測量技術。對于小電阻(100Omega;)測量，引線電阻和熱電動勢可能帶來誤差問題
關鍵字：分立電阻器檢定測試系統誤差來源引線電

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分立電阻器檢定測試系統誤差來源引線電介紹

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