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        基于內裝測試(BIT)技術的裝備控制系統故障診斷

        • 引言  內裝測試(BIT)是20世紀70年代美國在軍用測試領域提出的全新的技術概念,其目的在于改善裝備的維修性、測試性和自診斷能力,同時也使裝備系統的機動性和保障性得到很大改善。20世紀70年代以來,以航天航空等國
        • 關鍵字: BIT  內裝  測試  故障診斷    
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