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測試轉(zhuǎn)臺測控系統(tǒng)電磁兼容性設(shè)計
- 1 概述 測試轉(zhuǎn)臺測控系統(tǒng)不可能工作在絕對理想的環(huán)境下，因此它必然受到各種環(huán)境因素的影響。這些影響包括：(1)外部環(huán)境對測試設(shè)備的影響;(2)測試設(shè)備電子線路內(nèi)部各元器件之間的相互干擾。外界環(huán)境干擾包括外界電磁場、電網(wǎng)波動等，而電子線路之間的互相干擾則主要是通過公共阻抗、線間分布電容及互感而相互影響。測試設(shè)備電子線路不僅受到外界環(huán)境的影響，同時它也會向外界發(fā)射電磁波，給電網(wǎng)回饋波動，這種效應(yīng)會對其它電子設(shè)備造成干擾。因此其電磁兼容是研究該設(shè)備既不受周圍環(huán)境的影響，又不給周圍環(huán)境以這種影響的一門技
- 關(guān)鍵字： 電磁 兼容 測控系統(tǒng)
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