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智能型光電采樣器的設計

• 各代光電采樣器的比較 　　第一代模擬式光電采樣器，是一種簡單的光電發射、接收電路，幾乎不具備抗外界干擾能力。第二代模擬式光電采樣器，具有一定的抗外界干擾性能，但是需電位器調節。在電表轉速發生變化時，往往不能正常采樣，需多次調節，大大降低了工作效率；另外，電位器使用一久，機械件的松動和電位器的磨損，使有些光電采樣器根本無法正常采樣。第三代數控式光電采樣器的出現，使光電采樣器的發展產生了質的飛躍，該產品對好光后，即可正常采樣，且具有一定的抗干擾性能，但該產品在外界光線變化較大時，往往不能正常采樣。而且大多數
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