- 近日,應用材料公司宣布推出先進的Applied Centura® TetraTMIII掩膜刻蝕設備,它是目前唯一可以提供45納米光掩膜刻蝕所需要的至關重要的納米制造技術系統。Tetra III通過控制石英掩膜把刻槽深度控制在10 Å以內,同時把臨界尺寸損失減小到10nm以下,使客戶可以在最重要的器件層交替使用相移掩膜和強有力的光學臨近修正技術。該系統為基于鉻、石英、氮氧硅鉬等多種新材料的下一代光刻技術應用提供無差錯、高產能的刻蝕工藝。
應用材料公司資深副總裁,刻蝕、清潔、前道
- 關鍵字:
45納米 光掩膜刻蝕 應用材料公司
光掩膜刻蝕介紹
您好,目前還沒有人創建詞條光掩膜刻蝕!
歡迎您創建該詞條,闡述對光掩膜刻蝕的理解,并與今后在此搜索光掩膜刻蝕的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司

京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網安備11010802012473