EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
信號(hào)去嵌測(cè)試
信號(hào)去嵌測(cè)試 文章 最新資訊
利用新一代虛擬探測(cè)功能實(shí)現(xiàn)DDR等信號(hào)去嵌測(cè)試
- 一、內(nèi)存測(cè)試中的難點(diǎn)內(nèi)存廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中，內(nèi)存測(cè)試也是產(chǎn)品測(cè)試中的熱點(diǎn)和難點(diǎn)。內(nèi)存測(cè)試中最為關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)目為DQ/DQS/CLK之間的時(shí)序關(guān)系。JEDEC規(guī)范規(guī)定測(cè)量這幾個(gè)信號(hào)之間的時(shí)序時(shí)測(cè)試點(diǎn)需要選擇在靠
- 關(guān)鍵字： 虛擬探測(cè) DDR 信號(hào)去嵌測(cè)試
| 共1條 1/1 1 |
信號(hào)去嵌測(cè)試介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條信號(hào)去嵌測(cè)試!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)信號(hào)去嵌測(cè)試的理解，并與今后在此搜索信號(hào)去嵌測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)信號(hào)去嵌測(cè)試的理解，并與今后在此搜索信號(hào)去嵌測(cè)試的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473