低漏電流測(cè)試 文章 進(jìn)入低漏電流測(cè)試技術(shù)社區(qū)

英國(guó)Pickering公司發(fā)布新款開關(guān)保護(hù)模塊，面向半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試中的低漏電流測(cè)試

• 英國(guó)Pickering公司作為用于電子測(cè)試和驗(yàn)證的模塊化信號(hào)切換和仿真解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商，于近日推出新型低漏電流開關(guān)解決方案，面向半導(dǎo)體測(cè)試，如WAT晶圓驗(yàn)收測(cè)試中的低電流驅(qū)動(dòng)保護(hù)測(cè)量。新款產(chǎn)品基于開關(guān)隨動(dòng)保護(hù)層(switched guard)設(shè)計(jì)原理，提供PXI, PXIe和LXI版本，整體設(shè)計(jì)確保隔離電阻高達(dá)1013Ω。該產(chǎn)品系列包括三個(gè)系列，提供各種開關(guān)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。PXI模塊40-121系列提供兩種SPST通用開關(guān)配置(13或26個(gè))或2:1(8或16組)多路復(fù)用開關(guān)。PXI模塊40-590系列和P
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