Date:April 27th,2006  Debao Hotel

         
        Hosts:
        China National Electronics Import and Export Corporation
          Electronic Engineering & Product World
        Co-Organizers: EDAW-NEC
        Organizers:
        Electronic Engineering & Product World
        China Electronics International Exhibition & Advertising Co.Ltd.
        Supporters:
        General Equipment Headquarters,PLA
        Commission of Science Technology and Industry for National Defense
        Ministry of Information Industry,PRC
        China Electronics Corporation
        Media Support: Instrument Meter News

         

         

        Sciences and technologies cannot evolve without testing and measurement techniques, which are the essential guarantees for the quality of products. With systems and products under test increasingly enhanced—getting more and more rapid, smaller and smaller in volume, and entering more and more application area, people have imposed higher and higher demands and requirements on testing and measuring technologies, which inspired the continuous emergence of new theories, techniques and methods for testing & measuring technology and instrumentation.

        Topics

        Real-time spectral measurement, applications of virtual instruments in testing systems, EMC/EMI measurement, RF and microwave measurement, automobile electronics and testing, embedded testing, high-speed serial data testing, automatic test equipment, testing of telecom networks, advanced IC testing technologies, complexly modulated signal measurement, testing of avionics/GPS, setup of PXI and data acquisition, the trends and direction of testing and measuring technologies.

        Schedule

        時 間
        演講題目
        演 講 人
        09:00-09:30
        報道,收取名片或調查表準備下午抽獎活動
        09:30-09:35
        開幕致詞
        EEPW主編 王瑩
        09:35-10:20
        黑鳥及下一代測試總線LXI
        Aglient 航空航天及國防業務市場項目經理 邢國元
        10:25-11:10

        雷達信號測試方案及儀器應用

        羅德與施瓦茨中國有限公司
        產品經理 陳峰

        11:15-12:00

        共同構建
        下一代國防設計系統的測試平臺

        Tektronix設計與制造測試儀器產品部航天航空及國防應用銷售經理 周文昊

        12:00-13:00

        自助午餐

        13:00-13:45

        航天和軍工測試技術的挑戰

        北京航天測控技術公司
        總經理 奚全生

        13:50-14:35

        NI產品在現代航空航天和軍工
        測試應用上的解決方案

        美國國家儀器公司
        中國區域銷售經理 高向東

        14:40-15:25

        迎接測試測量世界新挑戰

        北京普源精電科技有限公司
        國內銷售部副總經理 李藝

        15:30-15:40
        國內測試測量行業的現狀
        中國電子儀器行業協會秘書長徐春齡

        15:45-16:15

        測試測量行業的“十一五”規劃

        國家“十一五” 規劃電子儀器組組長
        中國工程院院士 張鐘華

        16:20-16:30 抽獎(三臺精美MP3播放器),活動結束

        注:此活動日程為暫定,以會議當日公布的為準

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        Contact

        北京

        聯系人:王煒

        《電子產品世界》雜志社會展部

        電話:8610-68580742

        傳真:8610-68580564

        電郵:jackwang@edw.com.cn

         

        HONG KONG

        Jorge Moo Lew

        Alegra International Limited

        Tel: 852-23668005

        Fax: 852-23668905

        Email: eepw@alegra.com.hk

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        本次研討會免費參加,參會人員必須提前注冊,可選擇網上注冊電話注冊;若沒有提前注冊不能領取會議資料也不能參加抽獎活動。

        聽眾報名請聯系:

        電子產品世界會展部 梁超
        電話:010-58882867
        傳真:010-68580564
        E-mail: liangchao@edw.com.cn

        廠商報名請聯系:

        電子產品世界會展部 王煒
        電話:010-68580742
        傳真:010-68580564
        E-mail: jackwang@edw.com.cn

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