會議主題：高性能測試系統捕獲復雜信號背后的玄機

指導單位：中國電子信息產業集團有限公司、美國國際數據集團 (IDG)
主辦單位：中國電子國際展覽廣告有限責任公司、《電子產品世界》雜志社
承辦單位：《電子產品世界》雜志社
會議時間： 2016年5月12日
會議地點：中國國際展覽中心（老館）
會議形式：技術演講 + 儀器展示

國際測試儀器應用技術大會主題方向