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        新型熱敏電阻特性曲線測定系統(08-100)

        —— Measuring system for heat-variable resistor
        作者:趙麗生 高軍 呂曉萌 盧禹錕 常凱 王書波 謝旻澍 山東大學物理學院 時間:2009-02-27 來源:電子產品世界 收藏

          方案論證與比較

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/91868.htm

          加熱方法方案論證

          方案一、采用水熱法進行加熱,這是原系統的加熱方法,加熱不均勻,加熱不易控,水灑在實驗室很容易造成安全事故。

          方案二、采用渦流加熱器進行加熱,加熱可控度最好,安全,但價格過高。

          方案三、采用軟鐵進行加熱,加熱可控,安全,且價格低廉。

          通過比較,同時結合本實驗系統要求并不十分嚴格,選擇方案三。

          單片機選擇方案論證

          方案一、采用51單片機,這是目前市場上最通用的單片機,價格最低廉,但容易受到外部干擾,不適合本系統的加熱環境,且使用較為麻煩,沒用內部AD,需要外部擴展元件較多。

          方案二、采用ARM單片機,這是一種高端單片機,適合處理數據計算量大的系統,因此對本系統用處不大,且這種單片機也易受外部干擾,價格過高。

          方案三、采用AVR單片機,這是先進的低端單片機,使用簡單,有自帶10位AD,受外部干擾很小。價格適中。同時它還具有其它眾多優點。AVR單片機的單周期指令能夠保證高的執行效率和低成本, AVR單片機可以提供高達16MIPS的執行時間,具有128K字節的可編程Flash存儲器,同時具備4096字節的靜態RAM。AVR單片機自帶看門狗定時器,在強烈的電磁干擾條件下可以防止程序跑飛。內部包含有硬件乘法器,加快乘法運算速度;I/O端口引腳數多達32根。

          通過比較,選擇方案三。

          電阻測量方案論證

          方案一、采用內部AD,通過伏安法,分別直接測量元件兩端電壓及電流,這種方法簡單容易實現,但精度很低,且由于電流較大,容易對單片機造成損害。

          方案二、采用H橋法,這種方法精度高,但電路復雜,且難以用單片機實現,不易控制。

          方案三、采用穩壓電源提供合適的電壓,再串聯標準電阻分壓,再通過單片機內部AD測量元件的電流,從而獲得元件的阻值。這種方法容易實現,精度較高,安全可靠。

          方案四、采用穩壓電源提供合適的電壓,再串聯標準電阻分壓,再通過單片機內部AD測量元件的電壓,從而獲得元件的阻值。具有方案三的各項特點,同時由于AVR單片機對電壓測量比電流測量更加簡單精確,因此精度更高。

          通過比較,選擇方案四。

          系統設計

          特性曲線測試系統(圖1)包括下列部分:

          1、以功能強大的AVR單片機為核心控制部件;

          2、利用PWM和傳回的溫度信息對加熱部件進行控制;

          3、通過(18b20)測量溫度,并實時對加熱環境進行監控;

          4、設計高穩壓電源,利用標準電阻分壓及內部A/D方法進行間接電阻測量;

          5、通過LED進行數據信息顯示。


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