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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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作者：時間：2008-04-10 來源：電子產品世界

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　　集成邊界掃描

　　一個獨立應用的邊界掃描系統可以用邊界掃描I/O資源來擴展UUT接口電路的測試覆蓋范圍。在一個內電路測試儀上集成邊界掃描工具，利用夾具的針來連接網來改善測試性和診斷，這需要開發另外的測試程序。希望在單獨應用系統和集成方案中運行同樣的測試程序來降低測試開發時間和維護成本。

本文引用地址：http://www.104case.com/article/81439.htm

　　混合邊界掃描

　　若測試程序獨立于測試系統硬件，特別是當考慮采用I/O資源來擴展邊界掃描測試覆蓋范圍時，可以大大地改善邊界掃描測試程序和系統內編程程序的便攜性。基于此原因，開發了混合掃描(HYSCANTM)。混合掃描允許在各種ATE系統中執行同樣的邊界掃描測試圖形，而不需要修改。
混合邊界掃描的原理是移位向量和并行I/O向量的分離。測試程序包括UUT邊界掃描鏈的測試圖形和測試儀的I/O資源。然而，I/O資源的測試圖形與實際的測試儀硬件無關。

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關鍵詞： ATE 邊界掃描 UUT

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