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        Agilent分析探針支持533MTps設(shè)計(jì)和調(diào)試

        作者:eaw 時間:2005-05-07 來源:eaw 收藏

        日前推出的FSI-60075內(nèi)插件分析探針,是(安捷倫科技)專為下一代DDR2 SDRAM總線分析而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品。該新品為低平外形內(nèi)插件,對DDR2總線影響小,可使用任何Jedec標(biāo)準(zhǔn)的DDR2雙在線存儲模塊(DIMM)在533MTps下進(jìn)行設(shè)計(jì)和調(diào)試。且其垂直設(shè)計(jì)還最小化了水平方向的外部區(qū)域,從而允許DIMM緊鄰探針安裝在槽內(nèi)。www.agilent.com


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