R&S先進的IC測試方案，讓設計變得更簡單

　　“中國集成電路設計業2015年會暨天津集成電路產業創新發展高峰論壇”將于2015年12月10-11日在梅江會展中心舉辦。加快推動我國集成電路產業發展是新一屆中央政府做出的戰略決策。本次年會以“協同創新，提質增效，成就芯夢想”為主題，深入探討集成電路產業，特別是集成電路設計業面臨的機遇和挑戰;提升創新能力，增強中國集成電路產業鏈的綜合能力，以滿足市場的需求和提高國際競爭力。大會將對促進產業整合，提升核心競爭力，實現產業規模化快速發展產生深遠影響。

　　羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz，R&S)作為全球最大的電子和無線移動通信測試設備廠商之一，將首次在IC年會上展示其領先的針對IC設計與測試的產品和解決方案，包括寬帶無線通信測試技術，通用射頻微波芯片測試技術，收發機芯片測試技術，收發機芯片產線測試技術，先進相位噪聲測試技術，先進時域測試技術等方案。同時，針對頻域，時域和信號域的測試，R&S公司帶來了4款明星產品用于現場的演示和交流：

　　R&S ZNB20 矢量網絡分析儀

　　R&S SMW200A 矢量信號發生器

　　R&S FSW43 信號與頻譜分析儀

　　R&S RTO1044 數字示波器

　　與此同時，R&S公司將在“IC設計與封裝測試”專題論壇中，以“R&S先進的IC測試方案，讓設計變得更簡單”為主題，全面介紹R&S公司在IC設計與測試領域的產品和解決方案，特別包含可以助力IC 設計的獨有方案，期待與您分享，敬請關注。

　　通過參觀和交流，來賓將體驗到R&S公司的一流產品、服務以及先進理念，領略R&S公司打造的全方位IC測試方案平臺，來共同推動IC產業的創新與發展。