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        元器件選型之安規(guī)電容篇

        作者: 時(shí)間:2015-10-07 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          讀者可能會(huì)奇怪,為啥選型還不把所有電容都列進(jìn)去,而只把單獨(dú)列出呢?這是有原因的,因?yàn)殡娙萏珡?fù)雜,種類太多,其失效機(jī)理和關(guān)注的參數(shù)因用途、工藝特點(diǎn)的不同而有很大差異。所以,做個(gè)細(xì)分是很必要的。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/280983.htm

          有個(gè)最典型的失效機(jī)理是低壓失效。從安規(guī)的角度來講,都喜歡把余量留得大一點(diǎn),這樣即使設(shè)計(jì)上有點(diǎn)缺陷,也不會(huì)器件故障,竊以為!恰恰相反,殊不知,物極必反,哲學(xué)規(guī)律在此得到充分體現(xiàn)。

          低壓失效的典型癥狀:1實(shí)際應(yīng)用電壓遠(yuǎn)低于電容的額定耐壓值,一般在額定值的10%以下;2濕熱實(shí)驗(yàn)或潮濕預(yù)處理后電容會(huì)失效;3從濕熱實(shí)驗(yàn)和潮濕預(yù)處理后,進(jìn)行高熱實(shí)驗(yàn)或電路板烘烤,電容會(huì)恢復(fù)正常;4或者將失效電容從電路板上拆下,兩端加較高點(diǎn)壓,額定值的60%-75%左右,電容的性能會(huì)恢復(fù)正常。

          如果您用到的電容遇到了類似現(xiàn)象,基本上可以初步確診為低壓失效的可能了。那原因何在?

          電容的兩個(gè)極片中間有介質(zhì),然后被殼體將電容極片、介質(zhì)進(jìn)行封裝,事實(shí)上,封裝的殼體不會(huì)100%的致密,就給潮氣滲入提供了可能。舉例,耐壓在50V的,潮氣滲入了,在電容兩端加5V電壓的時(shí)候,附著在介質(zhì)上的潮氣就成了一個(gè)漏電流通道,但因?yàn)殡妷旱?,這個(gè)漏電流并不很大,通路阻抗上產(chǎn)生的熱量也并不大,不足以將水汽加熱蒸發(fā)掉,但破壞電容的儲(chǔ)能特性是足夠了。于是,電容失效了。

          后面,高溫實(shí)驗(yàn)就好理解了,高溫下水汽蒸發(fā),漏電流通道不復(fù)存在,電容恢復(fù)正常;如果加高壓,導(dǎo)通阻抗仍維持不變,隨著電壓的升高,漏電流勢必增大,增大的漏電流在導(dǎo)通阻抗上就會(huì)產(chǎn)生較大的熱量I2R,這個(gè)熱量也會(huì)導(dǎo)致潮氣蒸發(fā),結(jié)果也是電容漏電流逐漸變小,直至恢復(fù)儲(chǔ)能功能。

          因此安規(guī)電容選型的耐壓指標(biāo)絕對不能余量留得太大,這是選型時(shí)容易出現(xiàn)問題的一個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)。至于其他指標(biāo),比較常規(guī),就不羅嗦了。

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        關(guān)鍵詞: 安規(guī)電容

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