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        日置(HIOKI)?新品 LCR測試儀 IM3536

        作者: 時間:2014-12-22 來源:電子產品世界 收藏

          
               眾所周知,電容、電感等電子元件經常用于智能手機、平板電腦等的電子產品。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/267156.htm

          其實,除了那些小型電子產品以外,這些元器件還被廣泛應用于汽車等各種產品中。

          隨著這類使用了電子元件的產品的發展,同時以“高頻化” “低阻化”“長壽命化”等角度出發也對此類電子元件提出了高性能和高可靠性的要求。

          例如:為了將智能手機、平板電腦等攜帶型產品體積更小化,DC-DC逆變器的開關頻率高頻化,而該電源部分所使用的電感也逐步高頻化。而且為了讓電腦的CPU等的電源線中所使用的電容適用于急劇的負載變化,要求具備低ESR(電容中串聯的 電阻成分)和低ESL(電容里串聯的電感成分)等特性。

          為了能夠測量廣泛領域中所使用的電子元件的特性,此次研發并生產了范圍廣、精度高的測試儀

          其主要特點如下:

          1. 測量頻率4Hz~8MHz,精度保證范圍1mΩ和測量范圍擴大

          以往產品(3532-50)的測量帶寬為42Hz~5Mhz,而的帶寬擴大到了4Hz~8MHz。因此,可以測量用于各種領域中的電子元件的特性。特別是,最高頻率8MHz適用于高頻化的電源用電感的測量。

          而且,精度保證范圍比起以往產品10mΩ以上,的精度保證為1mΩ以上,因此也適用于有低頻化要求的電容等的測量。

          2. 和以往產品相比,實現高速、高精度測量

          IM3536和以往產品相比改善了測量時間和基本精度。

          比起以往產品的測量時間為5ms(0.005秒),IM3536是1ms(0.001秒),測量速度提高了4倍。因此,用于電子元件的產線中時,有助于提高產量。

          而且,相對于以往產品的基本精度(代表值)0.08%,IM3536為0.05%,因此適用于有高精度要求的電子元件。

          3. 連續測量功能,1臺即可完成不同條件的檢查

          在電子元件的評估中,有時會需要對1個電子元件需要按照不同條件和項目來測量。以往產品因為測量條件的切換時間和測量時間較慢,所以這類多種條件檢查會需要多臺測量儀器。

          IM3536的測量條件的切換和測量實現了高速化,而且IM3536具備連續測量功能(不同測量項目連續測量的功能),因此1臺IM3536就可以完成以前多臺測量儀器才能完成的測量。 這樣,可以簡化產線中所用自動檢查機的結構,從而實現低價化。

          4. 具備提高檢查品質的接觸檢查功能

          檢查時,發生測試探頭的斷線、和被測物的接觸不良時,可能存在測量誤差變大等影響測量值準確性的現象。為了防止此類事情,標配了能夠知道測試探頭斷線和接觸不良的接觸檢查功能。由此有助于提高檢查的品質。

          此外,還有諸多實際測量中需要的使用功能,結合以往產品應用時所遇到的問題,不斷總結改善,相信IM3536會成為今后元器件測量領域的標桿產品。

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        關鍵詞: 日置 LCR IM3536

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