NI半導體測試系統 開啟ATE測試新未來

　　美商國家儀器(NationalInstruments;NI)將于9月3日至9月5日于「2014SEMICONTaiwan國際半導體展」發表最新半導體測試儀，在NI攤位(臺北世貿南港展覽館4樓，攤位號碼：134)，業者可以前往共同探討NI最新半導體測試系統。

　　半導體晶片的設計難度不斷提升，并需要更高階的測試系統描述效能特性，且進一步提高了測試成本。NI透過高彈性的硬體平臺PXI，與多Site平行測試排程軟體，以降低晶片測試的成本。

　　全新的NI半導體測試系統(SemiconductorTestSystem;STS)，適用于RF和混合式訊號生產測試，并搭載PortModule可同時進行多埠的S參數與調變訊號測試，目前已有多家半導體領導公司采用，大幅提升效能與降低成本。此款半導體測試系統，將是NI2014年半導體展最大的重頭戲。

　　除此之外，我們亦將于現場展示半導體領域各相關應用解決方案，藉由PXI平臺的彈性與高效能，將可為您帶來極高的工作績效與成果，竭誠歡迎您蒞臨美商國家儀器攤位參觀指教。