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        UWB與WMAN無(wú)線電系統(tǒng)的先期驗(yàn)證

        作者: 時(shí)間:2008-12-14 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/261343.htm  OFDM 產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)生命週期

          無(wú)線產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)生命週期始于新興的系統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)格和無(wú)線電結(jié)構(gòu)概念,結(jié)束于獲利性產(chǎn)品的大量生產(chǎn)。一開(kāi)始在系統(tǒng)層級(jí)所做的利弊取捨,決定了如何才能符合重要的無(wú)線電系統(tǒng)規(guī)格,同時(shí)達(dá)到經(jīng)濟(jì)的硬件實(shí)作。在設(shè)計(jì)階段進(jìn)行系統(tǒng)與電路層級(jí)的模擬,可以事先預(yù)測(cè)提出的無(wú)線結(jié)構(gòu)及相關(guān)的參考無(wú)線電能否達(dá)到重要的規(guī)格。模擬作業(yè)會(huì)利用詳細(xì)的元件模型、RFIC 制程設(shè)計(jì)套件(PDK) 及RF 電路板/模組封裝寄生,對(duì)照每一種OFDM 標(biāo)準(zhǔn)的重要效能規(guī)格來(lái)驗(yàn)證參考無(wú)線電。

          面對(duì)龐大的快速上市壓力,設(shè)計(jì)工程師必須使用高效率的模擬工具來(lái)匯出設(shè)計(jì)IP,以供生命週期的后面階段重復(fù)使用,進(jìn)而縮短設(shè)計(jì)週期。隨著無(wú)線電復(fù)雜度的不斷提高,設(shè)計(jì)師必須盡可能在生命週期的初期驗(yàn)證效能。在每個(gè)階段進(jìn)行產(chǎn)品的效能驗(yàn)證,可以透過(guò)模擬及早發(fā)現(xiàn)重要的問(wèn)題,進(jìn)而規(guī)避風(fēng)險(xiǎn),如果等到開(kāi)發(fā)週期的后期才來(lái)修正問(wèn)題,恐怕要耗費(fèi)更多的時(shí)間和成本。

          整合設(shè)計(jì)、驗(yàn)證與制造測(cè)試— Connected Solutions

          Connected Solutions 結(jié)合模擬軟件及測(cè)試與量測(cè)儀器,構(gòu)成了各種彈性的解決方案,它們所提供的新的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證能力,可以因應(yīng)不同的OFDM 無(wú)線電標(biāo)準(zhǔn)來(lái)重新設(shè)定。模擬軟件與量測(cè)儀器的結(jié)合,意謂著可以分享信號(hào)、量測(cè)、演算法和資料,只解決光使用EDA 工具或儀器所無(wú)法排除的特殊問(wèn)題。因整合而提供的全新量測(cè)公用程式,改善了設(shè)計(jì)的程序并延伸測(cè)試儀器的功能。近年來(lái),數(shù)據(jù)通信(相對(duì)于語(yǔ)音)對(duì)于無(wú)線通信IC 設(shè)計(jì)流程的確立有很大的貢獻(xiàn)。過(guò)去幾年在各種WLAN 標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展過(guò)程中,Connected Solutions 確實(shí)滿足了許多彈性的驗(yàn)證需求。

          OFDM 副載波的龐大數(shù)量及較高的輸出功率位準(zhǔn)(相對(duì)于WLAN),提高了達(dá)到功率放大器/發(fā)射器的EVM 規(guī)格的難度。圖2以使用ADS 先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)及安捷倫的測(cè)試儀器為例,來(lái)設(shè)計(jì)與驗(yàn)證 802.16d 無(wú)線電的功能圖與信號(hào)流程。將802.16d 測(cè)試信號(hào)從ADS 下載到安捷倫E4438C ESG 信號(hào)產(chǎn)生器,然后通過(guò) 功率放大器待測(cè)裝置(DUT),再使用安捷倫89641A VSA 向量信號(hào)分析儀來(lái)分析,以便驗(yàn)證EVM 規(guī)格。圖3 和圖4 分別顯示量測(cè)與模擬的結(jié)果,量測(cè)值是以VSA 顯示圖來(lái)顯示,模擬結(jié)果則是以ADS先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)資料顯示格式來(lái)顯示。 OFDM 跳頻使得振盪器和接收器的設(shè)計(jì),更難達(dá)到低相位噪音和跳頻的需求。圖5 是可產(chǎn)生 OFDM Mode 1跳頻(3 個(gè)跳頻)的線路圖;圖6 是ADS2004A 所顯示的模擬結(jié)果。



        圖2. WMAN Connected Solutions 的test bench。



        圖3. 測(cè)得的WMAN (a) 頻譜和時(shí)間,(b) OFDM 星狀圖和符號(hào)/錯(cuò)誤表,及(c) 錯(cuò)誤向量頻譜和時(shí)間。
         



        圖4. 模擬的WMAN (a) 輸出星狀圖及(b) 輸出頻譜。
         



        圖5. 模擬的 Mode 1 跳頻信號(hào)源。
         



        圖6. 模擬的UWB (a) 時(shí)間叢發(fā)和頻譜,(b) 符號(hào)和LO 頻率相對(duì)時(shí)間,及(c) OFDM 頻譜。 

          將IP 移入生產(chǎn)階段—從模擬到測(cè)試皆使用相同的演算法

        在整合設(shè)計(jì)與驗(yàn)證的流程中,可以重復(fù)使用特定OFDM 演算法( 以C、ADS、MatLab(TM)、HDL或VerilogA 等設(shè)計(jì)工具開(kāi)發(fā)的)的設(shè)計(jì)IP。在模擬與測(cè)試作業(yè)間迅速移動(dòng)OFDM 信號(hào)、資料和測(cè)試向量的能力,有助于提升除錯(cuò)的速度、確定測(cè)試結(jié)果間的關(guān)系、以及加快驗(yàn)證程序的進(jìn)行。同樣地,IC 測(cè)試儀機(jī)臺(tái)也可以分享在模擬過(guò)程中所產(chǎn)生及在制造測(cè)試時(shí)所共用的信號(hào),以加速生產(chǎn)測(cè)試計(jì)畫(huà)的開(kāi)發(fā)、特性分析和聯(lián)繫。有一家知名的行動(dòng)手機(jī)制造商,就曾將ATE 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)與測(cè)試間的聯(lián)繫工作從幾個(gè)月縮短到兩週。

        結(jié)語(yǔ)

        將模擬工具與儀器整合在一起,即可在OFDM 設(shè)計(jì)生命週期中分享相同的分析和驗(yàn)證演算法。有助于縮短設(shè)計(jì)週期,因?yàn)榭梢栽贗C tape-out 之前從模擬中偵測(cè)出設(shè)計(jì)問(wèn)題, 這對(duì)于達(dá)到OFDM 無(wú)線電晶片的超低價(jià)格目標(biāo)來(lái)說(shuō)是絕對(duì)必要的。在每個(gè)設(shè)計(jì)階段,皆可依據(jù)新興的UWB 和WMAN 標(biāo)準(zhǔn)來(lái)執(zhí)行系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試,而在所有重要的階段,都可以產(chǎn)生及重復(fù)使用自動(dòng)化的test benches來(lái)進(jìn)行驗(yàn)證工作。標(biāo)準(zhǔn)化的驗(yàn)證過(guò)程適用于整個(gè)生命週期,所以可針對(duì)一開(kāi)始的設(shè)計(jì)到生產(chǎn)測(cè)試階段所獲得的資料尋求相關(guān)性。(


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