TD-LTE芯片的射頻性能測試完成

全球領先的測試設備制造商—安捷倫科技有限公司（NYSE：A）與TD-LTE芯片制造商—創毅視訊日前宣布，雙方已合作完成TD-LTE的數據卡射頻性能的測試。本測試參考3GPPLTE規范及創毅視訊測試需求，基于安捷倫的N5182A信號發生器及N9020A信號分析儀平臺完成。本次聯合測試遵循3GPP標準規定的第六章及第七章的芯片發射機及接收機的測試規范，這也是兩家公司一次成功的合作。

安捷倫科技中國區總經理蘭濤提到：“安捷倫作為全球領先的測試設備制造商，一直致力于提供TD-SCDMA及TD-LTE的測試方案，安捷倫將與創毅視訊一起合作開發TD-LTE測試系統。在中國部署下一代移動通信網絡的過程中，安捷倫將扮演重要的角色，為中國移動通信事業做貢獻。”

創毅視訊的CEO張輝說：“創毅視訊作為TD-LTE業界率先推出基帶處理芯片和數據卡解決方案的中國公司，與安捷倫共同完成的聯合測試，具有里程碑的意義，這次合作也幫助我們完成對芯片的性能指標驗證。”

安捷倫的MXA，MXG及PXB系列信號分析儀，信號發生器及信道仿真儀可以支持最新的TDD/FDD-LTE標準測試，同時，X系列平臺還能支持多達20種以上的無線標準的測試，具體可參見www.agilent.com/find/X-series。

下一代無線通信技術，簡稱LTE，有時分復用TDD及頻分復用FDD兩個版本，TD-LTE將在在全球得到廣泛的部署。安捷倫為TDD和FDD兩種最新的無線制式提供了完整的測試解決方案。