采用MSP430系列單片機設計測試系統

狀態設計是根據被測對象的運動規律確定存儲測試系統狀態組織結構的過程。它是實現功能設計的關鍵，是硬件設計的依據，也是建立基型存儲測試系統的有效手段。狀態設計可以使設計思想清晰地貫穿于設計和調試的始終，可以不同程度的簡化原本復雜的設計過程。

系統的狀態轉換：系統接通電源后，單片機處于知更狀態，等待采樣開始信號，此時系統處于超低功耗狀態，消耗的電流僅約1μA。觸發信號到來后，系統開始循環采樣，采樣完畢，存儲器計滿數據后，就停止采樣進入低功耗的等待讀數狀態。在等待讀數狀態時，接讀數端口，當單片機的I/O端口接收到計算機發送的上升沿后，就開始向計算機發送數據，即先從存儲器中將數據讀人單片機，然后再由單片機的串口發送給計算機，發送完畢后再次進入低功耗狀態。圖3是系統狀態圖。

5 測試結果

系統測試實驗由信號發生器給出頻率為1 Hz的正弦波，數據采集完畢后讀數情況如圖4所示。系統完全實現觸發和采樣過程。圖4是通過實驗得到的單通道測試波形圖，得到的輸出與所給的輸入信號完全一致，充分說明此方案是可行的。

6 結束語

采用MSP430系列單片機設計測試系統，利用MSP430系列單片機內部提供的12 bit的A／D轉換器進行數據采集，這種方式大大簡化電路設計，并能使測量結果達到較高精度；而且由于MSP430系列單片機超低功耗的設計，使測試系統具有體積小，低功耗，抗干擾能力強，無引線等特點。