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        雙頻激光測量系統及其在lC加工設備中的應用

        作者: 時間:2012-05-24 來源:網絡 收藏

          前言

          IC加工設備例如電子束曝光機、圖形發生器以及投影光刻機中的精密定位x一y工件臺系統,實際上是帶有座標測量的雙向定位工件臺系統,工件臺系統的定位精度直接影響圖形加工精度。眾所周知,工件臺系統精度是機械結構精度和測量系統精度的綜合,精密定位工件臺的座標測量方法普遍采用激光干涉儀法。因此在設計合理的工件臺機械結構的同時,必須合理選擇高精度、高速度和高可靠性的測量系統。美國HP公司生產的5501型雙領激光側量系統普遍地應用于IC加工設備中。表1列出幾種電子柬曝光機、投影光刻機以及圖形發生器中采用精密定位工件臺的

          系統的特點

          以往采用的單頻激光測量系統是一個直流測量系統,接收器接收到的信號是激光相干后產生的光亮暗變化條紋,前置放大器采用直流放大器,該系統必然存在直流光平和直流電平的漂移問題,抗干擾性差,工作不穩定.采用系統,激光束是包含有兩個頻率f1和f2且幅值相等的光束,.分別表示為:

          

          

          

          脈沖數N。由以上分析可見雙頻激光測量系統實際上是一個交流測量系統,前置放大器可采用高倍率的交流放大器,因此無零點漂移,抗干擾性好,工作穩定,光強衰減到90%仍然能得到所需要的信號。國內外IC加工設備廣泛采用美國HP公司生產的5501型雙頻激光測量系統,作為精密定位x一y工件臺的位置測量系統。

        干涉儀相關文章:干涉儀原理



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