基于器件特性進行精確的高亮度LED測試

　　最新一代的智能儀器，包括吉時利公司的大功率2651A系統信號源/測量儀（SourceMeter），由于可以最大限度減少通信的流量，從而可以大幅度提升測試吞吐率。測試程序的主體嵌入到儀器中的一個Test Script處理器（TSP）中，該處理器是一個用于控制測試步驟的測試程序引擎，內置通過/不通過標準、計算和數字I/O的控制。一個TSP可以將用戶定義的測試程序存放到存儲器中，并根據用戶需要來執行該程序，從而減少了測試程序中每個步驟的建立和配置時間。

　　單器件的LED測試系統

　　元器件操控器將單個HBLED（或者一組HBLED）運送到一個測試夾具上，夾具可以屏蔽環境光，且內帶一個用于光測量的光電探測器（PD）。需要使用兩個SMU：SMU#1向HBLED提供測試信號，并測量其電響應；SMU#2則在光學測量過程中檢測光電探測器（圖2）。

　　測試程序可以被編程設定為，在一根來自于元器件操控器的數字信號線[作為“測試啟動”（SOT）]控制下啟動。當儀器探測到該信號時，測試程序啟動。一旦執行完畢，則讓元器件操縱器的一條數字信號線發出“測試完畢”的標志。此外，儀器的內建智能可以執行所有的通過/不通過操縱并通過儀器的數字I/O端口發送數字指令至元器件操縱器，以便讓HBLED能根據通過/不通過標準來對HBLED進行分類。于是可以通過編程讓兩個動作同時執行：數據傳送至PC進行統計處理，而同時一個新的DUT運送到測試夾具上。

　　多個HBLED器件的測試

　　老煉（burn-in）等應用需要對多個器件同時進行測量。

　　如何減少HBLED測試誤差的自加熱是HBLED生產測試中最主要的誤差源之一。隨著結溫不斷升高、電壓降，或者更重要的是漏電流也隨之上升，因此如何最大限度縮短測試時間就極為重要。智能測試儀器可以簡化對器件的配置，并縮短其上升時間（該時間是指測試開始前任何電路電容實現穩定的時間）以及積分時間（該量決定了A/D轉換器采集輸入信號的時間長短）。新型的SMU儀器，例如吉時利2651A，具有A/D轉換器，這些器件的采樣速度比高性能的積分式A/D轉換器快50倍。于是，更快的測量速度可以進一步縮短總的測試時間。圖3顯示了對三個HBLED器件進行測試的系統。

　　脈沖測量技術的使用可以最大限度縮短測試時間和結的自加熱現象。當前具備高脈沖寬度分辨率的SMU可以精確地控制對器件施加功率的時間長短。脈沖化的工作也可以讓這些儀器的輸出電流遠超出其DC輸出能力。