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        DVDR DL雙層光盤的全面檢測

        作者: 時間:2013-03-18 來源:網絡 收藏
        單層光盤的基礎上,現在又出現了一種新的光盤格式,即 DL。與單層光盤相比,新的雙層結構的DVDR DL光盤格式在技術規格方面提出了更高的要求。一般,利用現有的DVDR生產設備即可生產DVDR DL,但為了確保光盤的質量,必須采取不同一般的、更全面的檢測技術。

        在世界上主要光盤制造商的密切配合下,現在檢測設備制造商Dr. Schenk已經為這種新的光盤格式找到了一種全面而且獨特的檢測辦法——利用在線和離線檢測設備,實現對生產工藝過程的可靠控制,確保的質量。

        目前,DVDR DL存在至少兩種不同的生產工藝過程:翻疊工藝過程(Inverse Stack)和表面轉化工藝過程(Surface Transfer (2P))。Dr. Schenk則為這兩種完全不同的生產過程提供了獨特的檢測設備。其檢測方法分兩步進行,由一種獨特的染料檢測機 ISM.dl 和成品檢測機 ISM.dvd 組合來實現,從而確保了按照新的、更高要求的技術規格對光盤進行檢測。

        newmaker.com

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        用同一臺ISM.dl染料檢測機檢測L0和L1層面的染料

        帶有獨特光學結構的染料檢測機ISM.dl

        新的染料檢測機ISM.dl擁有設計巧妙的光學結構,盡管在翻疊工藝過程(Inverse Stack)中L0和L1層上的結構不同,但這種獨特的光學結構使得ISM.dl仍可以準確一致地檢測到兩個半盤L0和L1上的局部缺損,如染料空缺(dye voids)、染料慧星(dye comets)或染料飛濺(dye splashes)等。除此之外,盡管有濺鍍層存在,該獨特的光學結構仍然可以不帶偏差地評估兩個半盤上的光密度。這一特點對于表面轉化工藝過程(Surface Transfer)中的多層結構的檢測尤其重要。如果只使用常規的染料掃描技術對L1層面的染料進行檢測,其檢測結果中通常同時含有對L0層面的染料和半透明濺鍍層的掃描結果。而ISM.dl顯示出的對L1層面染料的檢測結果中,則不含有對L0層面和半透明濺鍍層等不希望得到的檢測數據,從而使檢測結果更加準確。

        除了上述優點之外,這種針對的染料檢測機還可以檢測緩沖層(Inverse Stack)和半反射層。另外該機器還可以選加對L0層的盤基厚度進行測量的功能。

        帶有 ETI 單元(電信號測試)的成品檢測機ISM.dvd

        為了保證整盤的質量,需要用成品檢測機 ISM.dvd 對粘合好的光盤的表面缺損進行檢測,ISM.dvd還能同時對每張DVDR DL成品盤的一些關鍵參數進行監控。目前,Dr. Schenk 的檢測設備可以完全按照光盤的規格要求,對盤基厚度和間隔層厚度進行分別測量或合成測量。所有這些測量均在同一個檢測周期內完成,對光盤生產周期沒有任何影響。ISM.dvd 檢測機中使用的高分辨率翹曲檢測單元完全能夠滿足新的高規格的要求,尤其是對光盤旋轉一周時翹曲變化的測量。另外 Dr. Schenk 還有一系列的選項配置可以裝備給這類檢測機。

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