使用NI PXI矢量信號收發儀進行802.11ac測試
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圖2. Qualcomm Atheros采用LabVIEW來設計NI矢量信號收發儀的FPGA，藉由數字方式來控制待測設備
改用NI PXI矢量信號收發儀之后，測試速度變快了，所以我們可執行完整的增益表掃頻，而不是去反覆評估。 這樣一來，Qualcomm Atheros的團隊即可在單一設備的每次測試掃頻中，全面測試無線電運作的特性，進而采集全部共300,000個數據點，以便確切判斷出最理想的運作設置。 鑒于這樣的數據操作流程，我們能以前所未有的方式掌握設備的運作狀況，負責團隊即可探索以前從未設想過的運作機制。
圖3.就傳統儀器而言，每次測試大約會取得40個重要的WLAN收發器數據點。
NI PXI矢量信號收發儀(VST)的測試速度非常快，因此能執行完整的增益表掃頻，進而采集共300,000個數據點。
圖4. Qualcomm Atheros通過儀器的射頻前端元件直接同步處理數字控制時序，
測試速度比以前的PXI解決方案快了20倍以上，甚至超越原本的傳統儀器解決方案200倍之多。
對Qualcomm Atheros來說，儀器的靈活性與精密控制非常重要，因為這可以有效提升射頻測試流程的效率，所以我們使用NI全新的矢量信號收發儀時，優異的測試性能讓人非常滿意。 我們為客戶開發802.11ac解決方案的過程中，NI PXIe-5644R為我們帶來了自由度和靈活性，并大大提高了我們的測試吞吐量。(end)
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